本儀器熱探筆內裝有加熱(rè)和控(kòng)溫組件
，自動加熱並使溫(wēn)度維持在(zài)50‑60℃範(fàn)圍內
，冷熱探筆(bǐ)在(zài)半(bàn)導體材(cái)料上產生的熱(rè)電(diàn)動勢及整(zhěng)法(fǎ)產生(shēng)的電勢(shì)差(chà)經低噪聲(shēng)，低(dī)漂移的(dí)集成(chéng)運算放大器(qì)放大後
，用(yòng)液(yè)晶顯示(shì)器件（LCD）及(jí)檢(jiǎn)計示(shì)型號方向。儀器靈敏度(dù)分(fēn)，低(dī)兩檔
，可判別大分(fēn)非本征半(bàn)導體(tǐ)材料(liào)型(xíng)號（從阻單(dān)晶(jīng)到重摻單晶）。

二，性(xìng)能(néng)

1，可(kě)判(pàn)別(bié)鍺，矽著料的電(diàn)阻(zǔ)率(shuài)範(fàn)圍(wéi)：

鍺：非本(běn)征鍺10³～10^‑4Ω·cm

矽：10⁺⁴～10^-4Ω·cm

經內外(wài)實(shí)驗證明：在(zài)室(shì)溫(wēn)情況(kuàng)下(xià)
，熱電法對(duì)於電(diàn)阻率低(dī)於1000Ω·cm的(dí)矽(guī)單晶整(zhěng)法(fǎ)結果(guǒ)可靠。

2，鍺，矽(guī)單晶直徑及(jí)長度(dù)：不(bù)受限(xiàn)製

3，顯示方式：由顯(xiǎn)示N和(hé)P的液(yè)晶器件(jiàn)直(zhí)接(jiē)示
，同(tóng)時(shí)中心刻度為零位檢(jiǎn)計也在示型號
，針向(xiàng)左偏轉被測樣品為N型
，針向(xiàng)右偏轉被(bèi)測樣(yàng)品(pǐn)為(wéi)P型(xíng)。

5，探針：用ASTM F42標準(zhǔn)中建議的不(bù)鏽(xiù)鋼(gāng)作冷(lěng)熱(rè)探(tàn)針(zhēn)材(cái)料(liào)
，針尖為(wéi)60℃錐(zhuī)體
，熱筆(bǐ)溫(wēn)度(dù)自動保持在(zài)50‑60℃範(fàn)圍(wéi)內
，冷(lěng)筆(bǐ)與室(shì)溫相(xiāng)同(tóng)。整法行選用硬質(zhì)合金作(zuò)探針。

6，電源及耗：AC 220V±10%
，50HZ交(jiāo)供(gōng)電
，zui大(dà)耗（熱筆加熱狀態(tài)）小於40W
，平(píng)均(jūn)耗≈10W。

7，外型尺(chǐ)寸：370×320×110（mm）

8，重量(liáng)：約 4 kg