少(shǎo)子壽命測(cè)試儀是款矽(guī)片少子(zǐ)壽命測試儀(yí)，不僅適用於矽(guī)片(piàn)少(shǎo)子(zǐ)壽命的測量(liáng)，更適(shì)用(yòng)於矽棒(bàng)，矽(guī)芯，檢(jiǎn)磷棒，檢硼棒(bàng)，籽(zǐ)晶等多種不(bù)規則形狀矽(guī)少(shǎo)子壽命的(dí)測(cè)量。
 

　　下(xià)麵我(wǒ)給大家講講(jiǎng)它(tā)的點(diǎn)：
 

　　1.測(cè)試範圍廣：包(bāo)括矽塊，矽棒(bàng)，矽(guī)芯(xīn)，檢磷(lín)棒(bàng)，檢(jiǎn)硼棒，籽晶，矽片等的少子(zǐ)壽命(mìng)及鍺單晶的(dí)少(shǎo)子壽命測(cè)量(liáng)。
 

　　2.主(zhǔ)要應用(yòng)於(yú)矽(guī)棒(bàng)，矽芯(xīn)，檢磷棒，檢(jiǎn)硼棒，籽晶(jīng)，矽(guī)塊(kuài)，矽片(piàn)的廠，出(chū)廠(chǎng)檢查(chá)，過程中重(zhòng)金(jīn)屬(shǔ)沾汙和(hé)缺(quē)陷的監控等(děng)。
 

　　3.適(shì)用於低(dī)阻矽料少子(zǐ)壽命(mìng)的(dí)測量，電阻(zǔ)率測量(liáng)範圍可達(dá)ρ>0.1Ω?cm(可擴(kuò)展至(zhì)0.01Ω?cm)，*了微波光電導(dǎo)無(wú)法(fǎ)檢(jiǎn)測低阻單晶(jīng)矽(guī)的問(wèn)題。
 

　　4.程監控動態(tài)測試(shì)過程(chéng)，避免(miǎn)了微(wēi)波光(guāng)電(diàn)導(dǎo)(u-PCD)無法(fǎ)觀(guān)測(cè)晶體矽(guī)陷阱效(xiào)應(yīng)，表(biǎo)麵復(fù)合(hé)效(xiào)應(yīng)缺陷(xiàn)的問(wèn)題。
 

　　5.貫(guàn)穿深度大，達(dá)500微米(mǐ)，相比微(wēi)波(bō)光(guāng)電導的30微米(mǐ)的貫(guàn)穿深(shēn)度，真正體現了少子(zǐ)的體(tǐ)壽命(mìng)的測(cè)量，避(bì)免了(liǎo)表麵復(fù)合(hé)效應的幹擾(rǎo)。
 

　　6.業定製樣品架滿足了原生多晶(jīng)矽料企業測(cè)試多種形狀的(dí)矽材料少子壽命(mìng)的(dí)要(yào)求(qiú)，包括矽(guī)芯，檢磷(lín)棒(bàng)，檢(jiǎn)硼棒等(děng)。
 

　　7.性(xìng)價比，價(jià)格遠低於外(wài)外少子(zǐ)壽命(mìng)測試(shì)儀(yí)產(chǎn)品，大程度地降低了(liǎo)企業的測試(shì)成本(běn)。
 

　　北(běi)京恒奧德(dé)儀儀器儀表(biǎo)有(yǒu)限公司為各大企業提(tí)供了(liǎo)許多產品和(hé)優質(zhì)服務。公司堅(jiān)持以用(yòng)戶至(zhì)上(shàng)，質量率(shuài)，信(xìn)譽率(shuài)，信(xìn)譽(yù)恒(héng)和(hé)服務(wù)yi為宗(zōng)旨。產品出(chū)廠年內(nèi)免(miǎn)費維(wéi)修，終身保護。嚴格(gé)的要求，穩(wěn)定(dìng)的(dí)產量是(shì)我(wǒ)廠發展生(shēng)存的希望(wàng)，我(wǒ)們希望(wàng)廣大科研程(chéng)人員(yuán)對(duì)誠(chéng)產(chǎn)品提出(chū)更(gēng)合(hé)理(lǐ)，更善的(dí)建議，也希望我們共同研製開發，共未來