數(shù)字(zì)式(shì)四(sì)探(tàn)針(zhēn)測試計/數字(zì)式四探針(zhēn)測(cè)試(shì)儀 　型(xíng)號：SZB-SX1934

產品點
四(sì)探針(zhēn)測試儀是根據單晶(jīng)矽物(wù)理(lǐ)測試方法家標準並參考(kǎo)美(měi)A.S.T.M 標(biāo)準的(dí)半導體材料(liào)電阻率(shuài)及(jí)方塊電阻(zǔ)（薄(báo)層(céng)電阻(zǔ)）測試用(yòng)儀(yí)器(qì)。
儀(yí)器(qì)以(yǐ)大規(guī)模集成電路為(wéi)核(hé)心(xīn)件(jiàn)，采(cǎi)用旋扭式(shì)開(kāi)關(guān)控製(zhì)，及(jí)各(gè)種作狀態(tài)LED示。應用微(wēi)計算機(jī)，使(shǐ)得測(cè)量(liáng)讀(dú)數更加直觀，快速。整(zhěng)套儀器體積小(xiǎo)，耗低，測量(liáng)度(dù)，測試速度快(kuài)，穩定(dìng)性好，易操(cāo)作。


測量(liáng)範圍 電(diàn)阻(zǔ)率/Range：10-4—105Ω/□(可擴(kuò)展/extended range) 方(fāng)塊(kuài)電(diàn)阻(薄(báo)層電阻) /Sheet resistance：10-3—106Ω/□ 電阻/resistance：10-6—105Ω
可(kě)測晶片(piàn)直徑（zui大） φ100mm(標(biāo)配)，方(fāng)形230×220mm(zui大(dà))
zui大電阻測量誤(wù)差(按JJG508-87)
0.1Ω，1Ω，10Ω，100Ω≤±0.3%讀數(shù)±2個(gè)字
外(wài)形尺(chǐ)寸 400mm×440mm×120mm
儀(yí)器(qì)重量 電(diàn)氣(qì)主(zhǔ)機：約(yuē)4kg 　　測試(shì)台：約(yuē)5kg
測試(shì)環境(jìng) 溫度：23±2℃ 相對濕(shī)度：≤65％； 無頻(pín)幹擾(rǎo) 無(wú)強光照射(shè)
電源 220V±10%(50Hz) 耗≤35W
備注(zhù) 具(jù)備電腦接口