用(yòng)戶可以根據測(cè)量(liáng)的需(xū)要選用不(bù)同的(dí)測(cè)厚儀(yí)，磁(cí)性測(cè)厚儀和(hé)渦測厚(hòu)儀般測量的厚度(dù)適用0-5毫米(mǐ)，這類(lèi)儀(yí)器又分(fēn)探(tàn)頭與主(zhǔ)機體型(xíng)，探(tàn)頭與(yǔ)主機分(fēn)離型(xíng)，前(qián)者操作(zuò)便捷(jié)，後(hòu)者(zhě)適(shì)用(yòng)於(yú)測非平(píng)麵的(dí)外形。更厚的致密材質材料要用聲(shēng)波測(cè)厚(hòu)儀來測(cè)，測(cè)量(liáng)的(dí)厚度可以(yǐ)達(dá)到0.7-250毫(háo)米(mǐ)。電解法(fǎ)測厚(hòu)儀適合測量(liáng)很細(xì)的綫(xiàn)上(shàng)麵(miàn)電鍍(dù)的金(jīn)，銀等金屬的厚度(dù)。
儀器由(yóu)德(dé)，集(jí)合了(liǎo)磁(cí)性測(cè)厚儀(yí)和渦(wō)測(cè)厚儀(yí)兩種(zhǒng)儀器(qì)的(dí)能(néng)，可用於測(cè)量(liáng)鐵及(jí)非鐵金(jīn)屬基體(tǐ)上(shàng)塗(tú)層(céng)的厚度(dù)。如:
* 鋼(gāng)鐵上(shàng)的銅(tóng)，鉻，鋅等電(diàn)鍍(dù)層(céng)或油漆，塗(tú)料，搪(táng)瓷等塗(tú)層厚度(dù)。
* 鋁，鎂(měi)材料上陽(yáng)氧(yǎng)化(huà)膜(mó)的(dí)厚度(dù)。
* 銅(tóng)，鋁，鎂(měi)，鋅(xīn)等(děng)非鐵金屬材料上(shàng)的塗層(céng)厚(hòu)度。
* 鋁，銅(tóng)，金等箔帶材及紙(zhǐ)張(zhāng)，塑(sù)料(liào)膜的(dí)厚度(dù)。
* 各種鋼(gāng)鐵及(jí)非鐵金(jīn)屬材料上熱(rè)噴塗層的厚度(dù)。
儀器符合家標準GB/T4956和(hé)GB/T4957，可用於檢驗，驗收(shōu)檢(jiǎn)驗及質(zhì)量(liáng)監(jiān)督檢(jiǎn)驗。
儀(yí)器點(diǎn)
* 采(cǎi)用雙(shuāng)能(néng)內置式(shì)探頭，自(zì)動識(shí)別鐵(tiě)基(jī)或非(fēi)鐵(tiě)基體(tǐ)材料，並選(xuǎn)擇相應的測(cè)量方式行測(cè)量(liáng)。
* 符(fú)合人(rén)體(tǐ)程(chéng)學的(dí)雙顯(xiǎn)示(shì)屏結(jié)構(gòu)，可(kě)以(yǐ)在何測量位置讀取(qǔ)測(cè)量數據(jù)。
* 采用手(shǒu)機菜單(dān)式(shì)能(néng)選(xuǎn)擇(zé)方(fāng)式(shì)，操作(zuò)十(shí)分(fēn)簡便(biàn)。
* 可設定(dìng)上(shàng)下限(xiàn)值，測(cè)量結果出(chū)或符(fú)合上下(xià)限(xiàn)數(shù)值(zhí)時(shí)，儀(yí)器(qì)會(huì)發出(chū)相應的聲音或(huò)閃爍燈提示(shì)。
* 穩定性，通常不校(xiào)正便(biàn)可長(cháng)期使用。
規(guī)格
量 程: 0~2000μm ,
電 源: 兩節5號電池
標準配(pèi)置
對材料(liào)表(biǎo)麵保護(hù)，裝飾(shì)形成(chéng)的(dí)覆(fù)蓋層，如塗層(céng)，鍍層，敷層，貼層，化(huà)學生成(chéng)膜等，在(zài)有關(guān)家(jiā)和(hé)際(jì)標準中(zhōng)稱為覆層(coating)。
覆層厚度測(cè)量已(yǐ)成(chéng)為業，表(biǎo)麵程的重(zhòng)要(yào)環，是(shì)產品達(dá)到優等(děng)質(zhì)量(liáng)標(biāo)準(zhǔn)的(dí)手(shǒu)段。為使產(chǎn)品(pǐn)際(jì)化(huà)，我出口商品和涉(shè)外(wài)項目中，對覆層厚度(dù)有了(liǎo)明確(què)的要(yào)求。
覆(fù)層厚度的(dí)測(cè)量(liáng)方法主要有(yǒu):楔(xiē)切法(fǎ)，光截(jié)法，電(diàn)解法(fǎ)，厚度差測量法，稱重法，X射(shè)綫(xiàn)熒光法(fǎ)，β射綫反(fǎn)向(xiàng)散射法，電容(róng)法(fǎ)，磁性測量(liáng)法(fǎ)及渦測(cè)量法等。這些方法中(zhōng)前五種是(shì)有損(sǔn)檢測，測量(liáng)手段(duàn)繁(fán)瑣，速(sù)度慢，多(duō)適(shì)用於抽樣(yàng)檢驗。
X射綫和(hé)β射綫(xiàn)法(fǎ)是無接(jiē)觸無損測(cè)量，但裝置復(fù)雜昂(áng)貴(guì)，測量範圍較小(xiǎo)。因(yīn)有放(fàng)射(shè)源(yuán)，使用(yòng)者(zhě)遵(zūn)守射(shè)綫防護規範。X射綫法可測薄鍍(dù)層(céng)，雙鍍層，合(hé)金鍍層。β射綫(xiàn)法(fǎ)適(shì)合鍍層(céng)和(hé)底(dǐ)材(cái)原子序(xù)號(hào)大(dà)於(yú)3的鍍(dù)層(céng)測量。電(diàn)容(róng)法(fǎ)僅在(zài)薄(báo)導電體的(dí)緣(yuán)覆層測(cè)厚時(shí)采(cǎi)用。
隨(suí)著(zhuó)的日(rì)益步(bù)，別是近(jìn)年(nián)來引入微機(jī)後，采用磁性法和(hé)渦(wō)法的測(cè)厚儀向(xiàng)微型(xíng)，智(zhì)能(néng)，，度，實用(yòng)化的方(fāng)向(xiàng)了(liǎo)步。測(cè)量的(dí)分辨率(shuài)已達(dá)0.1微(wēi)米(mǐ)，度(dù)可(kě)達到1%，有了大幅度(dù)的提。它適用範圍(wéi)廣，量程(chéng)寬，操(cāo)作(zuò)簡(jiǎn)便且(qiě)價廉(lián)，是業(yè)和科(kē)研使用(yòng)zui廣泛的測厚儀器(qì)。
采用(yòng)無(wú)損方(fāng)法既不(bù)破(pò)壞覆層也不破壞(huài)基(jī)材(cái)，檢測(cè)速度快，能(néng)使(shǐ)大量(liáng)的檢測(cè)作(zuò)經濟地行(háng)。
當前位置(zhì)：