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TCL-GM-II型電阻率(shuài)自(zì)動(dòng) 測(cè)定儀
TCL-GM-II型(xíng)電阻(zǔ)率自動測定(dìng)儀既能(néng)測(cè)量粉體材(cái)料,又(yòu)可按試驗室標準測(cè)量(liáng)固(gù)體棒狀材料的電(diàn)阻率(shuài)。
1.用途(tú)
主要用(yòng)於(yú)測(cè)量(liáng)炭(tàn)製品和石墨(mò)製品(pǐn)以及其它(tā)導(dǎo)電(diàn)棒狀材料(liào)在實驗室(shì)常(cháng)溫下的(dí)電阻(zǔ)率,包括(kuò)TCL-GM-I型粉(fěn)體材(cái)料電阻率自(zì)動測定儀可(kě)測的所有粉體(tǐ)材料(liào)。
2.儀器(qì)及其點
本(běn)儀器是在(zài)TCL-GM-I型粉體(tǐ)材(cái)料電阻率(shuài)自(zì)動(dòng)測(cè)定儀的(dí)基礎上增加(jiā)了(liǎo)個(gè)提(tí)供電的副機(jī),及測(cè)量(liáng)棒狀(zhuàng)材(cái)料(liào)所需的兩電和電(diàn)位探測器(qì),它(tā)包括(kuò)TCL-GM-I型粉體材料電阻(zǔ)率自(zì)動測(cè)定儀的所有能(néng)和用途。
3.主(zhǔ)要性能標
電(diàn) (500mA)
測量(liáng)電壓(yā) 0-5mV
分辯率 0.1µΩm
電(diàn)源(yuán) 220V±10% 50HZ
率(shuài)消耗(hào) <100W
電位探測器(qì) 20-60mm 可(kě)調(tiáo)
測(cè)量試(shì)樣直(zhí)徑 10mm,20mm,45mm
試樣長(cháng)度 120mm,160mm,45mm,100mm
外形尺寸
主機 440×420×159,重量:8Kg
副機(jī) 440×420×159,重量(liáng):8Kg
測(cè)試支(zhī)架(jià) 200×200×800,重量:15Kg
*含(hán)TCL-GM-I型(xíng)測量(liáng)粉(fěn)體材料(liào)電阻率的所(suǒ)有(yǒu)能和標(biāo)
4.安裝(zhuāng)
主機(jī)接綫與TCL-GM-I型相(xiāng)同(tóng)。副機(jī)接(jiē)綫:電源(yuán)插(chā)頭接電源插(chā)座,連(lián)機(jī)綫的(dí)兩端(duān)插頭(tóu)分(fēn)別(bié)接到(dào)主,副機的連機(jī)插(chā)座(注意(yì)定位糟位置(zhì))。將(jiāng)兩電(銅(tóng)片)的接(jiē)頭接(jiē)A+,A-和電位(wèi)探(tàn)測器的接頭(tóu)(小(xiǎo)測試架(jià))接(jiē)V+,V-。
5.電位(wèi)探(tàn)測器(qì)之(zhī)間(jiān)的距離(L)值(zhí)和試樣截(jié)麵積(S)值輸入法
若(ruò)以炭,石(shí)墨(mò)棒為例(lì),試樣大小按際GB3074.1-82,測試(shì)方(fāng)法參照標GB6717-86。根(gēn)據這兩個標準和鋁用炭(tàn)素材料(liào)電阻(zǔ)率測(cè)量行業標(biāo)準的要求,測(cè)試(shì)樣(yàng)的長(cháng)度不同,截(jié)麵積(jī)不同(tóng),所以在測試時,要(yào)輸入電(diàn)位探測(cè)器之間(jiān)的不同距離(lí)(L)值和(hé)被(bèi)測試樣不同(tóng)的截(jié)麵積(S)值(zhí)。
其輸入法(fǎ)為(wéi):
5.1輸入電(diàn)位探(tàn)測器(qì)的距(jù)離L值:按(H.D)鍵,數(shù)顯“0”,直接(jiē)從鍵盤(pán)輸(shū)入(rù)L值(以(yǐ)mm為(wéi)單位)。
5.2輸(shū)入(rù)截(jié)麵積(S)值(zhí):依次按(àn)N鍵,輸入(rù)9999,按(àn)p鍵(jiàn),按S鍵,輸(shū)入(rù)試樣(yàng)截(jié)麵積(jī)(以(yǐ)mm為(wéi)單(dān)位)。
6.固(gù)體棒(bàng)狀(zhuàng)材料電(diàn)阻率測量步(bù)驟
打開主(zhǔ)機(jī)的電(diàn)源開關,當打印(yìn)機(jī)打印(yìn)出“測量(liáng)粉末(mò)”後再打開(kāi)副(fù)機的電源(yuán)開(kāi)關(guān),打(dǎ)印(yìn)機(jī)即打(dǎ)印出“測量炭(tàn)棒”,這時(shí)儀(yí)器即(jí)入(rù)棒狀(zhuàng)材料(liào)的(dí)測試(shì)狀態。
把(bǎ)欲測試樣(yàng)置於正,負兩(liǎng)電(diàn)之間,將(jiāng)其放(fàng)到測量支架(jià)的(dí)傳(chuán)感(gǎn)器(qì)蓋上,旋轉加壓(yā)螺拴(shuān)夾緊(約(yuē)600N力(lì))。輸入(rù)電(diàn)位探(tàn)測(cè)器之間的距離L值;依次(cì)按N鍵輸(shū)入(rù)9999,按P鍵(jiàn),按S鍵輸(shū)入(rù)所(suǒ)測(cè)試(shì)樣的截麵積(jī)。按(àn)p鍵,此時數(shù)顯出(chū)現(xiàn)p和(hé)E交(jiāo)替地(dì)變換,將小支架的(dí)電位探測器的兩(liǎng)端子(zǐ)(即(jí)V+和V-的(dí)電壓)接觸(chù)被測試(shì)樣,(見(jiàn)附(fù)圖(tú)3,注(zhù)意電和(hé)電(diàn)壓方向(xiàng)要致(zhì)),數顯(xiǎn)p不(bù)再跳(tiào)動,此p值(zhí)即(jí)為被測試(shì)樣的電(diàn)阻率(shuài)值(zhí)。參(cān)照(zhào)附(fù)圖2,按(àn)鍵盤(pán)相(xiāng)應的鍵(jiàn),即(jí)可顯示(shì)或(huò)打印出相應(yīng)的(dí)測量(liáng)結果。若(ruò)試樣為圓柱(zhù)炭(tàn)棒,可將電(diàn)位(wèi)探(tàn)測器(qì)沿(yán)炭(tàn)棒軸每(měi)間隔120º取(qǔ)p值(zhí),每(měi)測(cè)次按(àn)存貯鍵(jiàn)(store)次,按後出(chū)現“F”,再(zài)脫(tuō)離(lí)接(jiē)觸,否(fǒu)則存貯數(shù)值發生(shēng)變化。將(jiāng)其(qí)存貯後(hòu),取(qǔ)三組讀(dú)數,zui後(hòu)按存(cún)貯打印鍵(STy),該(gāi)試樣電阻率p的三次測試(shì)值和三(sān)次測試的(dí)平均值(zhí),勿需(xū)計(jì)算(suàn),均可打印出來。