1.片(piàn)劑硬度測(cè)試(shì)儀/片(piàn)劑(jì)硬(yìng)度計/片(piàn)劑直徑(jìng)測(cè)試儀(yí) 型(xíng)號:HAD-YD2

片劑(jì)硬度測試(shì)儀是用於測(cè)量(liáng)片(piàn)劑的(dí)壓碎硬(yìng)度(dù)。
適用標(biāo)準：JB/T20104-2007
標:
△ 硬度測試(shì)範圍：2-200N  0.2KG-20KG
△ 分辨率：0.1N  0.01Kg
△ 硬度測(cè)量(liáng)度：量程±0.5%
△  片(piàn)劑測(cè)試(shì)直徑(jìng)：2-40mm
△  重復測(cè)量(liáng)誤差：±1%
△  每組測試片數(shù)：≤100片
△  整機(jī)率(shuài)：40W
△  外形尺(chǐ)寸：長*寬*  400mm*240mm*140mm
主(zhǔ)要點(diǎn):
① 度(dù)壓(yā)力傳感器(qì)，保證測(cè)試的(dí)度和重現性(xìng)。
② 顯示選用(yòng)清晰度(dù)液(yè)晶(jīng)顯示(shì)屏(píng)，顯(xiǎn)示內容(róng)豐(fēng)富(fù)，用戶可(kě)根(gēn)據屏幕提示智能(néng)化(huà)操(cāo)作(zuò)，每個操作(zuò)過(guò)程均給(gěi)出(chū)漢字提(tí)示和量化(huà)標。
③ 測(cè)量方式(shì)可(kě)選: 手動單(dān)片/自動(dòng)連續 。
④ 係統(tǒng)可實(shí)現(xiàn)自動壓片，自(zì)動(dòng)顯示(shì)，自動(dòng)鎖存，自動復位，自動循(xún)環(huán)測試，自動綫性(xìng)誤差修正(zhèng)，自動故(gù)障(zhàng)診(zhěn)斷(duàn)。
⑤ 對自(zì)動連(lián)續試驗，提供查詢(xún)往次試驗(yàn)結果的能(néng)，為數據記錄(lù)提(tí)供(gōng)了(liǎo)便(biàn)利。
⑥ 自(zì)動計(jì)算(suàn)退(tuì)片行程(chéng)，壓縮(suō)您(nín)的測試(shì)占空(kōng)時(shí)間(jiān)。
⑦ 度(dù)量單位鍵轉(zhuǎn)換（牛頓-公(gōng)斤）。

2.片劑(jì)硬度儀(yí)/ 型(xíng)號:HAD-YD1

片(piàn)劑(jì)硬度(dù)儀是(shì)用(yòng)於測量(liáng)片(piàn)劑的(dí)壓碎(suì)硬度。
適(shì)用標準：JB/T20104-2007
標:
△ 硬(yìng)度測試範圍(wéi)：2-200N  0.2KG-20KG
△ 分(fēn)辨率：0.1N  0.01Kg
△ 硬度(dù)測量(liáng)度：量(liáng)程±0.5%
△ 片劑(jì)測試直徑：2-20mm
△ 整機(jī)率：10W
△ 外形(xíng)尺(chǐ)寸(cùn)：長(cháng)*寬*（280mm *180mm *110mm）
主(zhǔ)要點:
① 度壓力傳感器(qì)，保(bǎo)證(zhèng)測試的(dí)度和(hé)重現(xiàn)性。
② 手動(dòng)裝(zhuāng)片(piàn)，手動(dòng)壓(yā)片，操(cāo)作簡(jiǎn)便。
③ 係統(tǒng)可實現自(zì)動(dòng)顯示，自動(dòng)鎖存，自動復(fù)位，自動(dòng)循環測試，自(zì)動綫性(xìng)誤(wù)差修正(zhèng)，自(zì)動故(gù)障(zhàng)診斷(duàn)。
④ 提供單位轉換(huàn)能，試驗前後均(jūn)可實現換算。
⑤ 用戶可方便的(dí)使用(yòng)標準(zhǔn)砝(fǎ)碼定(dìng)期(qī)對儀器(qì)行測量度(dù)校(xiào)正(zhèng)

3.無綫(xiàn)壓電(diàn)互(hù)感器(qì)變(biàn)比測(cè)試儀(yí) 型(xíng)號(hào):HAD-9500

產品(pǐn)點(diǎn)

測量：低壓電互(hù)感器(qì)二(èr)次回路的(dí)電(diàn)，變(biàn)比(bǐ)，比差，角差(chà)，相別(bié)，性，漏電在(zài)綫測試監(jiān)控(kòng)；變壓器(qì)兩側電(diàn)大小(xiǎo)，變比在綫測(cè)試(shì)監(jiān)控；空(kōng)電，漏電(diàn)測試；二(èr)次回路核相，相序(xù)判(pàn)斷(duàn)能。

無綫壓(yā)變比測(cè)試儀突(tū)破傳統(tǒng)結構(gòu)，為(wéi)測量(liáng)低(dī)壓(yā)二次回路的電(diàn)，變(biàn)比(bǐ)，漏電而心(xīn)製(zhì)的，采(cǎi)用(yòng)CT及掩(yǎn)膜(mó)數(shù)字集成(chéng)，由(yóu)用壓檢測(cè)儀，低(dī)壓(yā)電(diàn)鉗，主機(jī)，壓緣杆(gān)，監控軟件(jiàn)等(děng)組成(chéng)，其(qí)無綫傳(chuán)送測(cè)試數(shù)據(jù)能(néng)穿透多(duō)層樓房(fáng)障礙，直(zhí)綫傳輸距離達300米。若(ruò)不使(shǐ)用(yòng)緣杆(gān)，還(huán)可(kě)以當作(zuò)度(dù)低壓鉗形電表，漏(lòu)電表(biǎo)使(shǐ)用，能準確測出(chū)0.01mA～1000A的電(diàn)或(huò)漏電。

4.活性炭粒度(dù)測定儀/活性(xìng)炭粒度測試儀/活(huó)性碳(tàn)粒(lì)度(dù)檢(jiǎn)測儀   型(xíng)號(hào):HAD-LD3

主要件(jiàn)及主要參數:

測(cè)顆粒粒度測定(dìng)儀(yí)的主要(yào)件(jiàn)及參(cān)數(shù)

l         轉速：150±2r/min

轉(zhuǎn)軸偏心(xīn)距：20 ±1mm

2.定時器(qì)

3.電壓：220V    率(shuài)：0.5KW

5.手(shǒu)持式四探針測試(shì)儀/四探針檢測儀(yí) 型(xíng)號:HAD-3

概(gài)述
HAD-3型(xíng)手持式四探針測試(shì)儀是運用(yòng)四探(tàn)針測量原理測試電阻(zǔ)率(shuài)/方阻的多用(yòng)途綜(zōng)合(hé)測量儀(yí)器。該(gāi)儀(yí)器符合(hé)單晶矽(guī)物理測(cè)試(shì)方法家標準並參考(kǎo)美 A.S.T.HAD 標準(zhǔn)。
儀器成(chéng)套組成(chéng)：由(yóu)HAD-3主機(jī)，選(xuǎn)配(pèi)的四探針(zhēn)探頭(tóu)等二(èr)分組(zǔ)成，也可(kě)加(jiā)配(pèi)測(cè)試台。
儀(yí)器所(suǒ)有參(cān)數設定，能(néng)轉(zhuǎn)換采(cǎi)用輕(qīng)觸按(àn)鍵(jiàn)輸入；具(jù)有零位，滿度(dù)自校能；手動/自動(dòng)轉(zhuǎn)換量(liáng)程(chéng)可選(xuǎn)；測試結(jié)果由數(shù)字表頭(tóu)直接顯(xiǎn)示(shì)。本測(cè)試儀(yí)采(cǎi)用可充電電池供電(diàn)，適合(hé)手持式(shì)變(biàn)動(dòng)場(cháng)合操(cāo)作使用(yòng)
！
探(tàn)頭(tóu)選配：根據不同(tóng)材(cái)料(liào)性(xìng)需要，探頭可有(yǒu)多款(kuǎn)選(xuǎn)配。有耐磨碳(tàn)化鎢探針探頭(tóu)，以(yǐ)測試矽類(lèi)半(bàn)導(dǎo)體(tǐ)，金(jīn)屬，導電塑(sù)料(liào)類等硬質(zhì)材(cái)料(liào)的(dí)電(diàn)阻率(shuài)/方阻(zǔ)；也有形(xíng)鍍(dù)金銅合金(jīn)探(tàn)針探(tàn)頭(tóu)，可(kě)測(cè)柔(róu)性材(cái)料導(dǎo)電薄(báo)膜(mó)，金屬塗層或薄膜，陶瓷(cí)或玻璃等基底(dǐ)上導電膜(mó)（ITO膜）或(huò)納(nà)米(mǐ)塗層(céng)等(děng)半導(dǎo)體(tǐ)材(cái)料(liào)的(dí)電(diàn)阻率/方(fāng)阻。換上(shàng)四端子測試夾具(jù)，還(huán)可對(duì)電(diàn)阻(zǔ)器體(tǐ)電阻，金屬導體(tǐ)的低，中(zhōng)值(zhí)電阻以及開關類接觸電(diàn)阻行測量。配用探(tàn)頭(tóu)，也(yě)可(kě)測試(shì)電池(chí)片(piàn)等(děng)箔上塗層電阻(zǔ)率方阻(zǔ)。
詳見(jiàn)《四探針(zhēn)探(tàn)頭點與(yǔ)選(xuǎn)型參考(kǎo)》入(rù)
儀器具有測(cè)量度，靈(líng)敏度，穩定(dìng)性好，智(zhì)能化程度(dù)，結(jié)構(gòu)緊湊(còu)，使(shǐ)用簡(jiǎn)便等(děng)點(diǎn)。
儀器(qì)適(shì)用於(yú)半導(dǎo)體材(cái)料(liào)廠，器(qì)件廠，科研單位(wèi)，等院校(xiào)對(duì)導體，半導體，類半導體材(cái)料(liào)的手持式(shì)導(dǎo)電性能的測試。
三，基本參數(shù)
1. 測量(liáng)範圍，分(fēn)辨(biàn)率
電    阻(zǔ)：     0.010 ～ 50.00kΩ,     分辨率0.001 ～ 10 Ω
電 阻 率：     0.010～ 20.00kΩ-cHAD， 分辨(biàn)率(shuài)0.001 ～ 10 Ω-cHAD
方(fāng)塊電阻(zǔ)：     0.050～ 100.00kΩ/□   分辨率(shuài)0.001 ～ 10 Ω/□
2. 可測(cè)材(cái)料尺寸
手持方式不(bù)限材(cái)料尺(chǐ)寸(cùn)，但(dàn)加(jiā)配測(cè)試(shì)台則由選配(pèi)測試台決定如下：
直    徑：HADT-A圓測(cè)試台直(zhí)接(jiē)測試(shì)方式 Φ15～130HADHAD。
HADT-C方測(cè)試(shì)台直(zhí)接測(cè)試方(fāng)式180HADHAD×180HADHAD。
長(cháng)()度(dù)：測(cè)試台直接測試方式 H≤100HADHAD。.
測量(liáng)方位: 軸向(xiàng)，徑(jìng)向均可.

量程劃分(fēn)及(jí)誤差等

4) 適配器作電(diàn)源：220V±10％, f=50Hz±4％,P_W≤5W，或電池(chí)供(gōng)電(diàn)

5) 外形尺(chǐ)寸：W×H×L=10cm×3.6cm×21cm

淨   重：≤0.3kg

溫馨提(tí)示：以(yǐ)上產(chǎn)品資料(liào)和圖片(piàn)都(dū)是按(àn)照順序相對應的(dí)