描述(shù)：HAD-B型光電倍(bèi)增(zēng)管(guǎn)綜(zōng)合(hé)實驗儀(yí)主要(yào)研(yán)究(jiū)光電倍(bèi)增管(guǎn)的基(jī)本性，如暗電，陰(yīn)靈敏度，陽(yáng)靈(líng)敏(mǐn)度，放大(dà)倍數(shù)（增(zēng)益(yì)），光(guāng)電性(xìng)，伏安性，時間(jiān)性，光(guāng)譜性等，本實(shí)驗儀電(diàn)路PCB板與光(guāng)通路(lù)組件各占半(bàn)置於(yú)箱體內，這(zhè)樣(yàng)不(bù)僅(jǐn)可以讓學(xué)生(shēng)對整個實(shí)驗(yàn)係(xì)統的(dí)光(guāng)通路目(mù)了然，增強學生(shēng)對係統(tǒng)的(dí)理解，而(ér)且外觀美(měi)觀大方(fāng)，攜帶存放(fàng)方便(biàn)。在電(diàn)路(lù)PCB板分(fēn)，采(cǎi)用模塊(kuài)化(huà)，配備有(yǒu)電(diàn)壓表，電表和立(lì)照度計，連(lián)綫，調節(jié)，觀(guān)
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詳細(xì)介紹
光電倍(bèi)增管(guǎn)綜(zōng)合實(shí)驗儀(yí) 增管(guǎn)綜(zōng)合實(shí)驗(yàn)儀 光(guāng)電倍(bèi)增(zēng)管實(shí)驗儀(yí)
型(xíng)號：HAD-B
HAD-B型光(guāng)電(diàn)倍增管綜(zōng)合實驗儀主(zhǔ)要研究光電(diàn)倍增(zēng)管的(dí)基(jī)本性，如暗電，陰靈(líng)敏度，陽靈(líng)敏(mǐn)度，放(fàng)大(dà)倍數（增益(yì)），光(guāng)電(diàn)性，伏安性(xìng)，時(shí)間(jiān)性，光(guāng)譜(pǔ)性等(děng)，本(běn)實(shí)驗儀電路(lù)PCB板(bǎn)與(yǔ)光(guāng)通(tōng)路組(zǔ)件(jiàn)各占半(bàn)置於箱體內，這樣(yàng)不僅可以讓學(xué)生對整(zhěng)個實(shí)驗係(xì)統(tǒng)的光通路目了然(rán)，增(zēng)強(qiáng)學生(shēng)對(duì)係統的理解(jiě)，而且外(wài)觀美觀大(dà)方(fāng)，攜帶存放(fàng)方(fāng)便(biàn)。在電路(lù)PCB板分(fēn)，采(cǎi)用模塊化(huà)，配備有電壓(yā)表(biǎo)，電表和(hé)立(lì)照(zhào)度(dù)計，連(lián)綫，調(tiáo)節，觀察和(hé)記錄(lù)都(dū)很方便。實(shí)驗儀(yí)還(huán)配(pèi)備(bèi)立照度(dù)計(jì)和(hé)預(yù)留(liú)各(gè)類擴展接口，學(xué)生可(kě)根據所(suǒ)學習的知(zhī)識行(háng)二(èr)次(cì)開發(fā)，提(tí)學生動手動腦能力(lì)。
二，實驗目(mù)的
1，掌(zhǎng)握光電倍增(zēng)管(guǎn)結(jié)構(gòu)以及(jí)作原(yuán)理
2，學習掌(zhǎng)握光電倍增管基本(běn)性(xìng)
3，學(xué)習掌(zhǎng)握(wò)光電(diàn)倍增(zēng)管(guǎn)基本(běn)參數(shù)的測量方法
4，了(liǎo)解光電倍增(zēng)管(guǎn)的應用(yòng)
三，實(shí)驗內容(róng)
1，光電(diàn)倍(bèi)增(zēng)管陰靈(líng)敏度測試實驗(yàn)
2，光電倍增(zēng)管(guǎn)陽靈敏度(dù)測試實驗
3，光電倍(bèi)增管放(fàng)大倍數（電(diàn)增益）測(cè)試(shì)實(shí)驗
4，光(guāng)電倍增(zēng)管陰光(guāng)電性(xìng)測試實(shí)驗
5，光電倍(bèi)增(zēng)管(guǎn)陽光(guāng)電性(xìng)測試實(shí)驗
6，光電(diàn)倍增管(guǎn)陰(yīn)伏(fú)安性測試實驗(yàn)
7，光電倍(bèi)增管陽伏(fú)安(ān)性測(cè)試實(shí)驗(yàn)
8，光電(diàn)倍增(zēng)管(guǎn)時(shí)間性(xìng)測試實驗
9，光電(diàn)倍(bèi)增(zēng)管(guǎn)光(guāng)譜性(xìng)測試實驗
10，光電(diàn)倍增管暗電測(cè)試實驗(yàn)
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