當前位置：首(shǒu)頁(yè) > 產(chǎn)品中心 > 機(jī)械量儀表 > 測(cè)力(lì)儀表 > HA-HB扭(niǔ)力扳(bān)手測(cè)試(shì)儀 扳手(shǒu)測試(shì)儀(yí)
描述： HA-HB係列扭力(lì)測(cè)試儀是用於校準(zhǔn)扭(niǔ)力扳手扭矩(jǔ)的(dí)儀器。儀(yí)器(qì)有(yǒu)手動(dòng)，電動(dòng)兩種測(cè)試方(fāng)式(shì)，適用於"1/4"，"3/8"，"1/2"等多種(zhǒng)規格的扭(niǔ)力扳手(shǒu)的扭(niǔ)力校準。產品(pǐn)具(jù)有操作簡單，測(cè)試等優點(diǎn)，是(shì)科研，廠(chǎng)實驗(yàn)室(shì)的檢測設備。
廠商性(xìng)質
生(shēng)產(chǎn)廠(chǎng)家(jiā)更(gēng)新時間(jiān)
2016-10-05訪問量(liáng)
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詳(xiáng)細介紹
| 品牌(pái) | 恒(héng)奧德(dé) |
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| HA-HB係列扭力(lì)扳手(shǒu)測試(shì)儀 | ||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||
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2.
 | 產(chǎn)品(pǐn)名稱(chēng)：二探針單(dān)晶矽及多晶(jīng)矽測試儀(yí) 產(chǎn)品(pǐn)型號：HHY8-GL-1 |
二(èr)探針單(dān)晶矽(guī)及(jí)多晶矽測(cè)試(shì)儀(yí) 型號(hào)：HHY8-GL-1
本(běn)儀器主(zhǔ)要(yào)用於(yú)測量(liáng)大直(zhí)徑(jìng)的單晶(jīng)矽和多晶(jīng)矽(guī)的電阻率分布情(qíng)況(kuàng)，以便矽材料的(dí)切(qiē)割和。
為(wéi)適應(yīng)大規模集成電路的迅(xùn)猛(měng)發展(zhǎn)，別(bié)是(shì)計(jì)算機芯片，內存(cún)的發(fā)展(zhǎn)，越來(lái)越(yuè)多的使(shǐ)用到(dào)了大直徑，純(chún)度，均匀(yún)度更的(dí)單(dān)晶矽材(cái)料。目前(qián)，在(zài)美(měi)，德(dé)等(děng)的業(yè)家，均采用了二探針法，使用(yòng)二探針(zhēn)檢測儀(yí)來(lái)測(cè)量(liáng)大(dà)直徑單(dān)晶(jīng)矽的(dí)電阻率(shuài)分布情況。
儀器符(fú)合美ASTM 《“F391-77”關(guān)於二探針(zhēn)測量(liáng)矽單(dān)晶試(shì)驗方法》的標(biāo)準，是種(zhǒng)新型的半導(dǎo)體電阻率(shuài)測試(shì)儀(yí)，適合(hé)半(bàn)導體(tǐ)材(cái)料廠(chǎng)和器件廠用(yòng)於(yú)二(èr)探(tàn)針法測(cè)量單晶矽和(hé)多(duō)晶矽(guī)半(bàn)導(dǎo)體棒(bàng)狀材料(liào)的體(tǐ)電(diàn)阻(zǔ)率，從(cóng)而步(bù)判(pàn)斷(duàn)半導(dǎo)體材料的性能(néng)，導和監視操作(zuò)，也可(kě)以用來(lái)測量(liáng)金(jīn)屬材料的(dí)電阻，儀器(qì)具有(yǒu)測量(liáng)度，穩(wěn)定性好，結構緊湊，使用(yòng)方(fāng)便(biàn)，型(xíng)美觀等點。也可以配四(sì)探針(zhēn)測(cè)試(shì)頭作常(cháng)規(guī)的四探針(zhēn)法(fǎ)測(cè)量(liáng)矽(guī)晶(jīng)體材(cái)料(liào)。
儀(yí)器分為(wéi)儀表電氣控製箱，測試台(tái)，探頭三(sān)分，儀(yí)表(biǎo)電氣(qì)控製箱(xiāng)由靈(líng)敏(mǐn)度直(zhí)數(shù)字電(diàn)壓表，抗(kàng)幹擾隔(gé)離性(xìng)能(néng)的電源變換裝置(zhì)，穩定(dìng)度恒(héng)源和(hé)電(diàn)氣(qì)控製分組(zǔ)成(chéng)。測(cè)量結果由大型LED數(shù)字顯示(shì)，零(líng)位(wèi)穩定，輸(shū)入(rù)阻抗(kàng)，並設有自校能。在棒(bàng)狀材料使(shǐ)用二探針(zhēn)法(fǎ)測試(shì)時，具有係數修(xiū)正(zhèng)能，從麵(miàn)板輸入(rù)相應的修(xiū)正係(xì)數(shù)，可以直接(jiē)讀出電阻率，使用方便(biàn)。測(cè)試(shì)台結構(gòu)新(xīn)穎，型美觀，可以(yǐ)方便地(dì)固(gù)定(dìng)好大(dà)小意(yì)尺寸的樣品，並可以作(zuò)逐(zhú)點選(xuǎn)擇步(bù)測量(liáng)，也(yě)可(kě)以自(zì)由選擇固(gù)定(dìng)位置(zhì)測量(liáng)，電活(huó)動(dòng)自如，具備鎖定裝(zhuāng)置(zhì)，方便(biàn)重(zhòng)復測量(liáng)。另外還配(pèi)置了(liǎo)二(èr)處記錄板(bǎn)和轉椅，測試探頭能自動升降(jiàng)，探(tàn)針為碳(tàn)化鎢材料(liào)，配(pèi)置(zhì)寶(bǎo)石(shí)軸承，具(jù)有(yǒu)測(cè)量度(dù)，遊(yóu)移率(shuài)小，耐磨，使用壽(shòu)命長點。同(tóng)時(shí)探(tàn)頭壓力恒定(dìng)並且可調(tiáo)整，以適合(hé)不同的材料。
儀(yí)器(qì)主要標(biāo)：
1.可測矽材(cái)料尺寸(cùn)：
直徑Φ25~Φ150mm滿足ASTM F-397的(dí)要(yào)求(qiú)。
長(cháng)度(dù)：100~1100mm.
2.測量方(fāng)式：軸(zhóu)向(xiàng)測(cè)量，每(měi)隔(gé)10mm測(cè)量(liáng)點。
3.測量電阻率範圍：10-3~103Ω-cm,可擴展到105Ω-cm。
4.數字電壓表(biǎo)：
（1）量(liáng) 程(chéng)：0.2mV，2mV，20mV，200mV，2V
（2）測(cè)量誤差：±0.3%讀(dú)數(shù)±2字(zì)
（3）輸(shū)入阻(zǔ)抗(kàng)：0.2mV和(hé)2mV檔(dàng)>106Ω
20mV檔及以(yǐ)上>108Ω
（4）顯 示：31/2位(wèi)LED數字(zì)顯示，範(fàn)圍0~1999。
5.恒源：
（1）電輸出(chū)：直電0~100mA連續可調(tiáo)。
（2）量 程(chéng)：10μA，100μA，1mA，10mA，100mA
（3）電誤差：±0.3%讀(dú)數±2字
6.二(èr)探針測試裝置(zhì)：
（1）探針(zhēn)間(jiān)距(jù)：4.77mm
（2）探針機械遊移率(shuài)：0.3%
（3）探(tàn)針(zhēn)壓(yā)力(lì)：0~2kg可調
（4）測(cè)試探頭(tóu)自動升降
7.二探針測(cè)試台(tái)
（1）測試矽單長(cháng)度：100-1100mm
（2）測(cè)試點間距：10mm
（3）測試台有(yǒu)慢，快(kuài)二(èr)種(zhǒng)移動速(sù)度(dù)，快(kuài)速(sù)移動(dòng)速(sù)度(dù)為1000mm/分（均匀
手動）
8.電源：交(jiāo)220V±10%，50HZ±2HZ，消耗(hào)率<150W
；www.51658042.com
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