1：熱(rè)電偶校驗裝(zhuāng)置(zhì)/熱電偶校驗(yàn)儀型號：HAWJT-2A

HA/WJT-2A熱(rè)電(diàn)偶(ǒu)校驗(yàn)裝置(zhì)供校(xiào)驗(yàn)作用熱(rè)電偶(ǒu)，適用於：鎳鉻(gè)－鎳矽(guī)（K）鎳(niè)鉻(gè)矽－鎳(niè)矽（N）鎳鉻(gè)－銅鎳(niè)（康銅）（E）等(děng)熱電偶的(dí)檢定和分(fēn)度
。
該裝(zhuāng)置(zhì)具(jù)有(yǒu)較的電(diàn)測(cè)係(xì)統(tǒng)和控溫係統，檢(jiǎn)定(dìng)數據可靠，性(xìng)能穩定(dìng)
。
校驗采用(yòng)法(fǎ)：即利用二等(děng)標準鉑銠10－鉑熱電偶(ǒu)和被校熱電偶(ǒu)直接的方(fāng)法(fǎ)行檢(jiǎn)定和(hé)分(fēn)度(dù)
。
裝置係成套供應包(bāo)括二等標準鉑(bó)銠(lǎo)10－鉑(bó)熱電(diàn)偶，操作台(tái)，熱(rè)電偶管狀檢(jiǎn)定(dìng)爐
。
操作台由控溫(wēn)係統和電測(cè)係統組(zǔ)成
。
控溫係(xì)統包(bāo)括(kuò)：XMTF智能數字調(tiáo)節儀(yí)，控(kòng)溫(wēn)熱(rè)電(diàn)偶，固(gù)態繼電(diàn)器(qì)等
。
電測係(xì)統包括(kuò)：PZ150A型(xíng)直數字電(diàn)壓表，SY821轉(zhuǎn)換開關
。
本裝置(zhì)適合於省，市，縣法(fǎ)定(dìng)計量機構，礦(kuàng)企業，科(kē)研單位(wèi)使用(yòng)
。
熱電偶校驗(yàn)裝置/熱(rè)電偶校(xiào)驗儀作條件：
環境(jìng)溫(wēn)度：10～30℃
相對濕(shī)度：≤85﹪
大氣壓(yā)力(lì)：86～106Kpa
周圍空(kōng)氣(qì)中(zhōng)無腐蝕性氣體(tǐ)和嚴(yán)重(zhòng)塵(chén)埃除地磁場合(hé)，裝置周圍無其他(tā)外(wài)磁(cí)場存在(zài)裝(zhuāng)置(zhì)置(zhì)於(yú)無振動和　 衝擊(jī)的(dí)作(zuò)場所(suǒ)
電(diàn)壓電(diàn)源(yuán)　　220V±10﹪　　50HZ
外形尺(chǐ)寸(cùn)和重(zhòng)量
操(cāo)作台（長×寬(kuān)×）　1200 mm×750 mm×1250mm
重　量：約(yuē)160kg
檢定(dìng)爐（長(cháng)×寬(kuān)×）600 mm×260 mm×1130mm
重　量：50kg
1. 被檢熱電(diàn)偶(ǒu)支(zhī)數(shù)　　5支
2. 控(kòng)溫範圍(wéi)　　　　　300～1200℃
3. 控溫穩定(dìng)性(xìng)　　　　不大於0.2℃/min
4. 具有(yǒu)溫報(bào)警(jǐng)　　　自動切斷電(diàn)源能
5. 電測係統(tǒng)
HA/PZ150A型直數(shù)字(zì)電壓表
測(cè)量範(fàn)圍1mV～100.000mV
靈(líng)敏(mǐn)度1uV
基(jī)本(běn)誤差±（0.005﹪RD＋0.0015﹪FS）
SY821轉換(huàn)開關
寄生電勢(shì)≤0.5uV
6. 控溫係統
XMTF－21數(shù)字(zì)顯示調節儀
分(fēn)度號　S型　量(liáng)程0～1600℃
控製方式　斷續PID
控溫熱(rè)電偶　鉑銠10－鉑熱電(diàn)偶　分(fēn)度號S型(xíng)
管(guǎn)狀檢定(dìng)爐
作電(diàn)壓　0～160V　50Hz
zui使(shǐ)用溫度(dù)1200℃
zui均匀(yún)溫場(cháng)中心與爐子(zǐ)軸綫方(fāng)法(fǎ)偏(piān)離不大於(yú)10 mm
。
爐(lú)室溫升(shēng)溫(wēn)時間從室溫(wēn)升(shēng)到1100℃不大60分鐘

2：手(shǒu)持式數(shù)字式(shì)四(sì)探針(zhēn)測試儀/手持(chí)式(shì)四探針測試儀/四探針(zhēn)電阻(zǔ)測(cè)試儀　型號：HADM-2

HADM-2型(xíng)手(shǒu)持(chí)式(shì)數(shù)字(zì)式四(sì)探(tàn)針測(cè)試儀是運用(yòng)四探(tàn)針測量(liáng)原(yuán)理測試電阻率/方(fāng)阻的多用途(tú)綜(zōng)合測量儀(yí)器(qì)
。該儀器(qì)符合單(dān)晶(jīng)矽物理測試方法(fǎ)家標(biāo)準並(bìng)參考(kǎo)美(měi) A.S.T.M 標準
。
儀(yí)器(qì)成套組成(chéng)：由(yóu)主機(jī)，選(xuǎn)配的四探針探(tàn)頭(tóu)等(děng)二分(fēn)組(zǔ)成，也(yě)可(kě)加(jiā)配測試台(tái)
。
主(zhǔ)機主要由數控(kòng)恒源，分辨(biàn)率(shuài)ADC，嵌入式(shì)單片機係統組成(chéng)，自動轉(zhuǎn)換量(liáng)程
。儀(yí)器(qì)所(suǒ)有參數設定，能(néng)轉(zhuǎn)換(huàn)采(cǎi)用旋鈕輸(shū)入；具(jù)有(yǒu)零位，滿度(dù)自校能；自動轉換(huàn)量(liáng)程；測試結(jié)果由數字(zì)表頭直接(jiē)顯示
。本(běn)測試(shì)儀采用(yòng)可充(chōng)電電池供電，適合手持式變動(dòng)場(cháng)合操作(zuò)使用(yòng)！
探頭選配：根(gēn)據(jù)不同材料(liào)性(xìng)需(xū)要，探頭(tóu)可(kě)有多(duō)款選(xuǎn)配(pèi)
。有耐磨碳化鎢(wū)探針探頭(tóu)，以測試矽(guī)類(lèi)半(bàn)導(dǎo)體，金屬(shǔ)，導(dǎo)電(diàn)塑(sù)料類等(děng)硬(yìng)質(zhì)材料(liào)的(dí)電阻率/方阻；也(yě)有(yǒu)形鍍金銅合金探針探(tàn)頭，可(kě)測柔性材料導電薄膜，金(jīn)屬塗層或薄膜(mó)，陶瓷或玻璃(lí)等基(jī)底上(shàng)導(dǎo)電膜（ITO膜）或納米(mǐ)塗(tú)層等(děng)半導體材(cái)料的(dí)電(diàn)阻率(shuài)/方阻(zǔ)
。換上四端子測試(shì)夾具(jù)，還(huán)可對電阻器體(tǐ)電阻，金(jīn)屬(shǔ)導體的(dí)低，中值電阻(zǔ)以及開關類接觸(chù)電(diàn)阻行測(cè)量
。配用(yòng)探頭，也可測(cè)試電(diàn)池片(piàn)等箔上塗層(céng)電(diàn)阻(zǔ)率方(fāng)阻
。
詳見 表2《四(sì)探針(zhēn)探頭(tóu)型號(hào)規格征選型參(cān)照表(biǎo)》入
儀器(qì)具有(yǒu)測(cè)量度，靈(líng)敏(mǐn)度，穩(wěn)定性(xìng)好(hǎo)，智能(néng)化程度(dù)，結(jié)構(gòu)緊湊，使(shǐ)用簡(jiǎn)便(biàn)等(děng)點
。
儀(yí)器適用於(yú)半(bàn)導體(tǐ)材(cái)料(liào)廠器(qì)件(jiàn)廠，科研單位，等院校對導體(tǐ)，半(bàn)導(dǎo)體，類(lèi)半導體(tǐ)材料的導電性能的(dí)測試
。
三，基本(běn)參(cān)數(shù)
1. 測(cè)量範(fàn)圍，分辨率(shuài)
電 阻： 0.010 ～ 9999Ω, 分(fēn)辨率(shuài)0.001 ～ 1 Ω
電(diàn) 阻 率： 0.010～ 2000Ω-cm， 分(fēn)辨率(shuài)0.001 ～ 1 Ω-cm
方塊電阻： 0.050～ 2000Ω/□ 分(fēn)辨率(shuài)0.001 ～ 1 Ω/□
2. 材(cái)料尺寸(cùn)
手持方(fāng)式(shì)不(bù)限材(cái)料(liào)尺寸(cùn)，但加配(pèi)測試台則由選配(pèi)測(cè)試(shì)台和(hé)測(cè)試(shì)方式(shì)決定
直 徑：HAD/SZT-A圓測試台直接(jiē)測試(shì)方式(shì) Φ15～130mm
。
HAD/SZT-C方(fāng)測(cè)試(shì)台直(zhí)接測試方式180mm×180mm
。
長(cháng)()度：測試台直接測試方式 H≤100mm
。.
測量方位: 軸向，徑(jìng)向均可(kě).
3. 量(liáng)程(chéng)劃分(fēn)及(jí)誤差等(děng)

量(liáng)程（Ω-cm/□）
9.999
99.99
999.9
9999.
電阻測(cè)試範(fàn)圍
0.010～9.999
9.99～99.99
99.99～999.9
999.9～9999
電阻率/方阻
0.010/0.050～9.999
9.99～99.99
99.99～999.9
999.9～2000
基本(běn)誤差
±1%FSB±2LSB
±2%FSB±2LSB

4) 適配器作(zuò)電源(yuán)：220V±10％, f=50Hz±4％,PW≤5W，或電池(chí)供電
5) 外(wài)形尺(chǐ)寸：W×H×L=18cm×7.5cm×13cm
淨(jìng) 重(zhòng)：≤0.5kg

3：無油真(zhēn)空(kōng)泵 真空泵 實(shí)驗(yàn)室小(xiǎo)型真空泵 型號：HAD-R300

簡介(jiè)：
無油(yóu)，保(bǎo)養；體積小，重(zhòng)量輕(qīng)；兩年質保，質量過硬！
zui大(dà)真空度：-650mmHg=85.5kPa=110tor；zui大(dà)速(sù)：17L/min

產(chǎn)品點：
1.無(wú)油，活(huó)塞往復式(shì)運作，保養
。
2.構，不(bù)到(dào)50分(fēn)貝(bèi)的(dí)低(dī)噪(zào)音值(zhí)，給(gěi)實驗室操作人員提供(gōng)安(ān)靜(jìng)的(dí)環(huán)境
。
3.質量可靠，通(tōng)過(guò)歐(ōu)盟(méng)CE認證及加拿(ná)大CSA認(rèn)證(zhèng)，兩(liǎng)年質(zhì)保承(chéng)諾使你無(wú)後(hòu)顧(gù)之(zhī)憂
。
4.可(kě)長(cháng)時(shí)間運行作(zuò)，zui多可達3000小時
。
5.標配真(zhēn)空(kōng)調節(jié)閥，可控(kòng)製(zhì)真(zhēn)空度，速，同(tóng)時調節閥內配有(yǒu)濾(lǜ)芯，使用(yòng)更方便(biàn)，安(ān)
。
6.R係列(liè)無油(yóu)式真(zhēn)空(kōng)泵隻需(xū)搭配(pèi)簡單的轉(zhuǎn)換套件，便可(kě)轉換(huàn)成正壓泵(bèng)（空壓機），機兩用(yòng)，經(jīng)濟(jì)實(shí)用(yòng)
。

產品(pǐn)參數(shù)：
zui大真空(kōng)度：-650mmHg=85.5kPa=110tor
zui大(dà)速：17 l/min
噪音：50.0dB
率：60W
馬達轉(zhuǎn)速(sù)：1450RPM
風(fēng)管接(jiē)口(kǒu)：5/16"
尺(chǐ)寸(cùn)：W275 x H165 x D150 (mm)
淨重(zhòng)：4.1kg

4：便(biàn)攜(xié)式(shì)廢液(yè)抽取係統(tǒng)/液體(tǐ)吸引(yǐn)泵(bèng)/生物廢液(yè)抽(chōu)取係統(tǒng) 型號：BIOVAC235

說明：

·廢(fèi)液(yè)瓶內浮和(hé)管子之間濾器(qì)的(dí)雙重廢液(yè)逆保(bǎo)護裝置，防(fáng)止廢液抽入泵(bèng)內

·低的噪(zào)音(yīn)和振(zhèn)動，噪音(yīn)值(zhí)甚至不(bù)到50分貝，非常(cháng)適合在(zài)生物安櫃內(nèi)使(shǐ)用

·廢液(yè)瓶(píng)，濾(lǜ)器，管(guǎn)子均可(kě)溫(wēn)壓(yā)滅菌(jūn)

·外(wài)殼(ké)材質(zhì)為(wéi)ABS，重(zhòng)量(liáng)輕且易清潔

·內(nèi)真空泵保(bǎo)修期為2年(nián)，有(yǒu)效(xiào)的(dí)質量(liáng)保(bǎo)證

應(yīng)用：

各種培養皿廢液的(dí)提取，細胞培養(yǎng)廢(fèi)液抽(chōu)取(qǔ)等

型號：biovac225 biovac235 biovac240 （bv225 bv235 bv240）

5：微(wēi)波光電導載子(zǐ)復合(hé)壽(shòu)命測(cè)試儀/少(shǎo)子(zǐ)壽(shòu)命測試儀　型(xíng)號：HAD-100A

HAD-100A型微(wēi)波光(guāng)電(diàn)導(dǎo)載子(zǐ)復合壽(shòu)命測(cè)試儀是參照(zhào)半(bàn)導(dǎo)體(tǐ)設(shè)備(bèi)和材料際(jì)組(zǔ)織SEMI標(biāo)準MF1535-0707及家(jiā)標準GB/T 26068-2010製(zhì)
。並(bìng)且我單位(wèi)是(shì)微(wēi)波反射(shè)法家標(biāo)準(zhǔn)起(qǐ)草(cǎo)單位(wèi)之
。本設備(bèi)采用(yòng)微(wēi)波(bō)反射(shè)無接觸(chù)光(guāng)電(diàn)導衰退測(cè)量方(fāng)法(fǎ)，適用於(yú)厚(hòu)度為1mm以下(xià)的(dí)矽片，電(diàn)池(chí)片少數載子壽(shòu)命(mìng)的測量(liáng)，提供(gōng)無(wú)接(jiē)觸，無(wú)損(sǔn)傷，數字顯(xiǎn)示的(dí)快速測量(liáng)
。壽(shòu)命(mìng)測(cè)量可(kě)靈敏地反映半(bàn)導體重金屬(shǔ)汙染及(jí)缺(quē)陷(xiàn)存在(zài)的情(qíng)況(kuàng)，是半導體質(zhì)量的重要(yào)檢測項目
。

壽(shòu)命測量(liáng)範圍(wéi)：0.25μs-10ms；樣品(pǐn)電阻(zǔ)率(shuài)下(xià)限>0.5Ω·cm
。

讀數方式：數字直讀
。

溫(wēn)馨(xīn)提示：以(yǐ)上產品(pǐn)資料(liào)和(hé)圖(tú)片都是按照順序(xù)相對應的