描(miáo)述(shù)：該儀器按(àn)照單(dān)晶矽(guī)物理測試方(fāng)法(fǎ)家標準(zhǔn)並(bìng)參考美(měi) A.S.T.M 標準而的，用於(yú)測試半導(dǎo)體(tǐ)材(cái)料(liào)縱向(xiàng)電(diàn)阻(zǔ)率(shuài)的(dí)用儀(yí)器。 儀(yí)器(qì)由(yóu)主(zhǔ)機(jī)，測試(shì)台(tái)，二探針(zhēn)探(tàn)頭(tóu)，計算機(jī)等分(fēn)組成(chéng)，測(cè)量(liáng)數據(jù)既(jì)可由主機直接(jiē)顯示，亦可(kě)由(yóu)計算機控(kòng)製測(cè)試采(cǎi)集測(cè)試數(shù)據到(dào)計(jì)算(suàn)機(jī)中加(jiā)以分(fēn)析(xī)，然後以表(biǎo)格，圖(tú)形方式統計分析(xī)顯示測試結(jié)果。
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詳(xiáng)細(xì)介紹(shào)
| 品牌(pái) | 恒(héng)奧德(dé) |
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二(èr)探針(zhēn)測試儀 測試(shì)儀 型號(hào)：GSZ-RTS-7
二(èr)探針測試儀(yí)是運用二(èr)探(tàn)針測(cè)量(liáng)原(yuán)理(lǐ)的(dí)多(duō)用途綜合測量設備。該(gāi)儀器按照單(dān)晶(jīng)矽物(wù)理(lǐ)測試(shì)方法家(jiā)標(biāo)準(zhǔn)並參考美 A.S.T.M 標準而(ér)的，用於(yú)測(cè)試半(bàn)導體材(cái)料(liào)縱向(xiàng)電阻(zǔ)率的用儀器。
儀器由(yóu)主機(jī)，測試台(tái)，二(èr)探針探頭，計算(suàn)機(jī)等(děng)分組成，測量數據既可由主機直(zhí)接(jiē)顯示，亦可(kě)由(yóu)計算機控(kòng)製測(cè)試采(cǎi)集(jí)測試(shì)數據(jù)到計算(suàn)機(jī)中加以分析(xī)，然(rán)後(hòu)以(yǐ)表格，圖形方(fāng)式統(tǒng)計分析顯(xiǎn)示測(cè)試(shì)結果。
儀器采用(yòng)了電子行(háng)，裝配。具(jù)有能選(xuǎn)擇直觀，測量(liáng)取(qǔ)數快，度，測(cè)量(liáng)範(fàn)圍寬(kuān)，穩定性(xìng)好(hǎo)，結(jié)構緊湊，易(yì)操作(zuò)等(děng)點。
本(běn)儀(yí)器適(shì)用(yòng)於半導體材料(liào)廠(chǎng)，科(kē)研(yán)單位(wèi)，等院(yuàn)校對半(bàn)導(dǎo)體材料的電(diàn)阻(zǔ)性能測(cè)試。
| 術(shù) 標(biāo) ： | ||||||||||||||||||
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2.
 | 產(chǎn)品名(míng)稱(chēng)：智(zhì)能電池內阻測試儀 電池內阻測試儀(yí) 電池內阻檢測(cè)儀(yí) 產品(pǐn)型號(hào)：CS-NZY-200 |
智(zhì)能電池內(nèi)阻測試(shì)儀 電(diàn)池內(nèi)阻(zǔ)測試儀 電(diàn)池內(nèi)阻檢測(cè)儀 型(xíng)號(hào)：CS-NZY-200
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產(chǎn)品(pǐn)參數： | |||||||||||||||
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