1.半輻(fú)射率綜(zōng)合檢測儀(yí) 型(xíng)號：HAD-GAF

半(bàn)輻(fú)射率綜(zōng)合(hé)檢測儀 HAD-GAF適用標(biāo)準：
GB/T2680-94《建築(zhù)玻璃可(kě)見光透射比(bǐ)，太(tài)陽(yáng)光直接(jiē)透(tòu)射(shè)比，太(tài)陽能(néng)總透(tòu)射(shè)比(bǐ)，紫外綫(xiàn)透射(shè)以及(jí)有(yǒu)關(guān)窗(chuāng)玻(bō)璃參數的測(cè)定》；
ISO9050-1990《建(jiàn)築玻璃(lí)可見(jiàn)光(guāng)透射比(bǐ)，太(tài)陽光直(zhí)接透(tòu)射比，太陽能總(zǒng)透(tòu)射比，紫(zǐ)外綫(xiàn)透射(shè)以及有關窗玻璃(lí)參數的測(cè)定(dìng)》；
ISO9050-2003《建(jiàn)築(zhù)玻(bō)璃光透率，日(rì)光(guāng)直(zhí)射率，太陽能(néng)總(zǒng)透(tòu)射(shè)率及(jí)紫外綫透射率(shuài)及有(yǒu)關光澤(zé)係數的測定》；
JGJ/T151-2008《建(jiàn)築門窗(chuāng)玻璃幕(mù)牆(qiáng)熱(rè)計算(suàn)規程》；
HAD-GAF參(cān)數：
光度項目 標(biāo)
設(shè)備(bèi)尺(chǐ)寸 1200mm×620mm×320mm
檢測方(fāng)法 光學(xué)測量法(fǎ)
光學(xué)波(bō)長(cháng)範圍(wéi) 190～3600nm（4.5um-25um）
光(guāng)度準(zhǔn)確度 ≤0.8%
波長準確(què)度 ±0.3nm（開(kāi)機自(zì)動校準(zhǔn)）
波長(cháng)重復(fù)性(xìng) ≤0.1nm
自動光譜帶寬 1，2，5，10，50nm
雜散光(guāng) < 0.01% （220nm
，Nal；340nm
，NaNO2）
光(guāng)源轉換(huàn)（紫外，可見，近紅(hóng)外(wài)段(duàn)） 自動切(qiē)換(huàn)（可(kě)在200nm～850nm～2600nm～3600nm波(bō)段範圍內自(zì)動設(shè)定(dìng)）
光源（遠紅(hóng)外(wài)） 2.5um-35um覆蓋(gài)範(fàn)圍
光(guāng)學測(cè)試附件 積分裝(zhuāng)置，反射測量裝(zhuāng)置(zhì)，半積分(fēn)
光度範(fàn)圍(wéi) -4.0～4.0A
光(guāng)度準確(què)度(dù) ±0.002A（0～0.5A）
±0.004A（0.5～1A）
光(guāng)度(dù)重(zhòng)復(fù)性(xìng) ±0.3%T（0～T）
0.001A（0～0.5A）
0.002A（0.5～1A）
光(guāng)度(dù)基綫(xiàn)平(píng)直度 ±0.001A（190～1000nm）
±0.005A（1000～3600nm）
光度基綫漂移 0.0004A/h（500nm
，0A
，預熱後）
噪聲 ±0.0004A

建(jiàn)築(zhù)玻璃測(cè)試(shì)標 檢測(cè)依據 GB/T2680-94；　　 JGJ/T151-2008
紫外(wài)光(guāng)透射(shè)比，反射(shè)比；
可(kě)見光透射(shè)比，反射比(bǐ)；
太陽(yáng)光直接(jiē)透射比(bǐ)，直接反射比；
太陽光直接吸收(shōu)比(bǐ)，太陽能總透(tòu)射比；
遮陽(yáng)係數；遮蔽(bì)係數；半(bàn)輻射(shè)率(選 配(pèi)）；

主要(yào)點：
1.強勁(jìn)的(dí)儀器性(xìng)能(néng)：其優(yōu)良的光(guāng)學(xué)係統(tǒng)
，的(dí)電子(zǐ)學係統
，水準的(dí)機械(xiè)係統
，保(bǎo)證了0.010%T的(dí)低雜散光(guāng)
，度PID溫度(dù)控製及(jí)24位(wèi)電壓(yā)數(shù)字(zì)采(cǎi)樣(yàng)。
2.穩定(dìng)可靠(kào)的：雙光束動態(tài)反(fǎn)饋比例記錄(lù)測(cè)光係(xì)統保證了基(jī)綫穩(wěn)定(dìng)性(xìng)
，氘燈(dēng)，光(guāng)電(diàn)倍增(zēng)管(guǎn)等關鍵器(qì)件(jiàn)均用(yòng)口件
，保(bǎo)證儀(yí)器(qì)的穩定可(kě)靠和(hé)長(cháng)壽(shòu)命(mìng)。
3.的測量(liáng)：采(cǎi)用(yòng)口(kǒu)優(yōu)質息(xī)光(guāng)柵(zhà)
，步降低儀(yí)器(qì)的(dí)雜(zá)散(sàn)光
，使儀器分析更加(jiā)準(zhǔn)確。
4.輕鬆效的(dí)人(rén)機對話(huà)：基(jī)於Windows環境的GAF係列(liè)智能型建築玻璃紫外光透(tòu)射比(bǐ)，反(fǎn)射比，可(kě)見光透射(shè)比，反射(shè)比，太陽光直接(jiē)透(tòu)射比，直接(jiē)反射比(bǐ)，太陽光直(zhí)接(jiē)吸(xī)收比，太陽能總(zǒng)透(tòu)射(shè)比，遮陽係(xì)數，遮蔽(bì)係(xì)數，半(bàn)輻射(shè)率(shuài)等中文操(cāo)作軟(ruǎn)件(jiàn)
，提供了(liǎo)豐(fēng)富的(dí)儀器控製(zhì)和操(cāo)作能
，簡單易用
，靈活效
，輕(qīng)鬆滿足(zú)使(shǐ)用者(zhě)的(dí)分析需求(qiú)。
5.優異(yì)的(dí)可擴展(zhǎn)性(xìng)：反(fǎn)射(shè)光(guāng)學積(jī)分可選用附件，建築(zhù)玻璃遮(zhē)陽(yáng)係數用(yòng)反射裝置
，使(shǐ)儀器的應(yīng)用(yòng)範圍(wéi)大大擴展。
6.設(shè)備(bèi)維(wéi)護簡(jiǎn)單(dān)方(fāng)便：的插座(zuò)式鎢燈和(hé)氘燈
，換燈(dēng)時(shí)免去光學(xué)調試(shì)
，使設備(bèi)儀器調(tiáo)試(shì)，維(wéi)護更加簡(jiǎn)單方(fāng)便(biàn)。
7.日誌記錄能：自動(dòng)記錄用戶的(dí)操作；日誌文件采用更為(wéi)可靠的數據庫(kù)格式(shì)保存；管(guǎn)理員可(kě)對(duì)日誌行分類(lèi)查閱(yuè)和其(qí)他處理(lǐ)。
8.采用(yòng)綜合的(dí)光學及(jí)半輻(fú)射體測試(shì)係統(tǒng)
，性價比
，便於(yú)測試。
9.質量(liáng)控製(zhì)能：可根據(jù)用戶的設置對(duì)測量數(shù)據行(háng)監(jiān)控(kòng)；出(chū)控(kòng)製範圍的(dí)數據(jù)係統將(jiāng)會顯(xiǎn)示提示(shì)信(xìn)息，行(háng)顏色標記或自動(dòng)重新(xīn)測量。
10.報(bào)告輸(shū)出(chū)能：可實現與其(qí)他係統(tǒng)共(gòng)享(xiǎng)數據(jù)的(dí)能；可(kě)將測(cè)量結(jié)果(guǒ)保存為Microsoft Word格式，Microsoft Excel格式，文本(běn)文件格式(shì)；可對報(bào)告格式行個(gè)性化(huà)的(dí)設置；可提前(qián)預(yù)覽結果報告的打(dǎ)印(yìn)效果。

2.螺綫管磁(cí)場(cháng)測定組(zǔ)合(hé)儀(yí) 型號:HADHL-IV

用途和目的：

* 本儀器(qì)通過實(shí)驗可驗(yàn)證霍爾(ěr)電，霍爾(ěr)電(diàn)壓，勵磁電三者的關(guān)係。測(cè)定螺(luó)綫管(guǎn)內(nèi)外(wài)磁場強度(dù)分布
，並可(kě)利用中心(xīn)點(diǎn)磁(cí)感(gǎn)應(yīng)強度理論值(zhí)來校準(zhǔn)霍(huò)爾傳(chuán)感(gǎn)器的靈(líng)敏(mǐn)度(dù)。

* 儀(yí)器實驗裝置上(shàng)所有(yǒu)轉(zhuǎn)換(huàn)開關軍采用可(kě)靠(kào)性繼電器(qì)來轉(zhuǎn)換(huàn)物理參(cān)量(liáng)的方(fāng)向(xiàng)
，安(ān)可靠(kào)
，操作方便
，地(dì)延(yán)長(cháng)了儀器(qì)的使用壽命。

參(cān)數(shù)及點(diǎn)：

* （GaAs）霍(huò)爾傳(chuán)感(gǎn)器
，N型半導(dǎo)體材料(liào)

* 作電(diàn)：1s=0～100mA

* 霍(huò)爾元(yuán)件靈敏度(dù)：大(dà)於(yú)10V/A.T

* 螺綫管恒源(yuán)：0～1.2A

3.納米微粒製備實驗儀 型(xíng)號:DP-219

本實(shí)驗儀(yí)采用(yòng)電(diàn)阻加(jiā)熱，氣(qì)體冷凝法製備(bèi)納米(mǐ)微粒。采(cǎi)用(yòng)真(zhēn)空泵(bèng)對反(fǎn)應(yīng)倉行(háng)真空(kōng)抽(chōu)吸(xī)
，並利用惰性氣(qì)體(tǐ)行(háng)置換(huàn)。原材料(liào)在(zài)真空(kōng)反(fǎn)應(yīng)倉被加(jiā)熱至(zhì)蒸發(fā)溫(wēn)度(dù)時(shí)蒸發(fā)成(chéng)氣相(xiāng)。氣相的(dí)原(yuán)材(cái)料(liào)原(yuán)子(zǐ)與(yǔ)惰性(xìng)氣(qì)體(tǐ)的(dí)原子(zǐ)（兩分子(zǐ)）碰(pèng)撞(zhuàng)
，迅(xùn)速(sù)降低能(néng)量(liáng)而驟然(rán)冷卻
，形成原子(zǐ)簇
，然(rán)後生(shēng)長(cháng)成納米(mǐ)微晶
，終(zhōng)在收(shōu)集(jí)器上收集(jí)到納米(mǐ)粒子(zǐ)。

標：

1，適(shì)用(yòng)氣體：氮氣，氬氣，氦氣(qì)和空氣。

2，壓(yā)力範圍：0.01Kpa～120Kpa

3，加(jiā)熱(rè)率：0～200W

4，數(shù)字顯(xiǎn)示
，含真空泵(bèng)。

4.光速測(cè)定(dìng)儀/光(guāng)速檢測儀(yí) 型(xíng)號:HADCY-IV

本(běn)儀器(qì)由光(guāng)學(xué)係(xì)統和(hé)信號處(chǔ)理(lǐ)係統兩分組(zǔ)成
，它根據(jù)光拍頻(pín)原(yuán)理(lǐ)
，通過光(guāng)電(diàn)轉換(huàn)檢測
，在(zài)普通(tōng)示波(bō)器上同(tóng)時觀(guān)察(chá)和兩束光(guāng)的波(bō)形(xíng)和相位
，測量光(guāng)程差(chà)和位相差(chà)
，求得光速。

采(cǎi)用新的(dí)分頻，觸(chù)發措(cuò)施
，能(néng)在(zài)示(shì)波(bō)器上觀察(chá)到，清(qīng)晰的(dí)波形(xíng)。

實驗誤差＜±5‰(位相差=2n時(shí))

頻率(shuài)≈35MHz

激光管(guǎn)波長(cháng)：6328Å

率＞1.5mW

連(lián)續作(zuò)時間：≥20h

體積：1480×420×270mm³
，適合普(pǔ)通桌麵(miàn)

5.磁(cí)天平/不鏽鋼
，分體式磁(cí)天平(píng) 型號:HAD-CTP-II

采用古(gǔ)埃法測量(liáng)順磁(cí)和(hé)逆磁磁(cí)化(huà)率。主(zhǔ)要結(jié)構(gòu)有：電(diàn)磁(cí)鐵和恒(héng)電(diàn)源；數字(zì)式(shì)斯(sī)計；配(pèi)有(yǒu)照(zhào)明係(xì)統(tǒng)的控製(zhì)盤。係統采(cǎi)用了PID電子調節(jié)
，數(shù)字(zì)電(diàn)源(yuán)（0～10A無調(tiáo)節）
，水冷(lěng)卻(què)
，使得(dé)儀器動態運(yùn)行更加(jiā)穩定可(kě)靠(kào)
，防止因(yīn)操作不當(dāng)而(ér)成儀器(qì)損壞(huài)。

二，標(biāo)：

* 磁(cí)鐵

型(xíng)式(shì)：古埃型(xíng)，單(dān)軛(è)鐵

磁(cí)柱(zhù)直徑(jìng)φ40mm；磁隙寬度0～40mm（可(kě)調）；

磁場強(qiáng)度0.000～0.85T（d＝20mm）
，分辨率(shuài)：0.1mT；

磁場均(jūn)匀度(dù)＜1.5%（D＝20mm
，d＝20mm）；

磁場穩(wěn)定度＜1%hr；勵(lì)磁(cí)電(diàn)範圍(wéi)0～10A（可調(tiáo)）

分(fēn)辨(biàn)率(shuài)：0.01A

勵磁綫(xiàn)圈(quān)作溫度(dù)＜60℃

* 測磁係統：使(shǐ)用(yòng)霍爾探頭的(dí)斯計

* 耗300W

* 天平靈敏度＜0.1mg（選配）

溫馨(xīn)提(tí)示：以上(shàng)產品(pǐn)資料和(hé)圖(tú)片(piàn)都是(shì)按照(zhào)順序相(xiāng)對應的