
當前位(wèi)置(zhì):首(shǒu)頁 > 產品(pǐn)中(zhōng)心(xīn) > 專用儀器儀(yí)表 > 消解(jiě)儀 > KDK-KDY-2兩探針(zhēn)電(diàn)阻(zǔ)率測試儀(yí)/二探(tàn)針(zhēn)電阻(zǔ)率(shuài)測(cè)試儀/兩(liǎng)探(tàn)針儀

描述(shù):KDK-KDY-2型兩(liǎng)探(tàn)針電(diàn)阻率測試(shì)儀(以(yǐ)下(xià)簡(jiǎn)稱(chēng)兩(liǎng)探針儀(yí))是按照(zhào)我家標準(zhǔn)GB/T1551-1995及(jí)美材料與(yǔ)試驗協會(ASTM)的材料驗收檢測(cè)方法(fǎ)“兩(liǎng)探(tàn)針(zhēn)法"。
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詳(xiáng)細介紹(shào)
| 品牌 | 恒(héng)奧(ào)德(dé) |
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兩(liǎng)探針電(diàn)阻(zǔ)率(shuài)測(cè)試(shì)儀/二(èr)探針電(diàn)阻率測試儀/兩探針儀(yí) 型(xíng)號(hào):KDK-KDY-2
KDK-KDY-2型兩探針(zhēn)電(diàn)阻(zǔ)率測試儀(以下簡(jiǎn)稱兩(liǎng)探(tàn)針(zhēn)儀(yí))是(shì)按照(zhào)我家標準(zhǔn)GB/T1551-1995及美(měi)材(cái)料(liào)與試(shì)驗協(xié)會(ASTM)的(dí)材料驗收(shōu)檢測(cè)方法(fǎ)“兩探針法”。它適(shì)合於測(cè)量橫(héng)截(jié)麵麵積均(jūn)匀的圓型,方(fāng)型(xíng)或矩(jǔ)形(xíng)單晶錠(如矽(guī)芯(xīn),檢磷,硼(péng)棒(bàng),區熔鍺(zhě)錠(dìng)等)的電阻率,測樣(yàng)長度(dù)與截麵(miàn)zui大尺(chǐ)寸(cùn)之比應(yīng)不小於(yú)3:1。由於(yú)兩探針(zhēn)法(fǎ)的測(cè)量電(diàn)是(shì)從長(cháng)棒兩端(duān)出,遠離電壓(yā)測量(liáng)探針(zhēn),因(yīn)此(cǐ)電過(guò)金(jīn)屬與半導體接觸處(chǔ)產(chǎn)生(shēng)的(dí)許多(duō)副(fù)效應(yīng)(如(rú)珀爾(ěr)帖效應,塞貝克(kè)效應,少子(zǐ)注入效(xiào)應(yīng)等),對(duì)測量(liáng)的影(yǐng)響較小(xiǎo),測量結(jié)果為(wéi)橫(héng)截(jié)麵(miàn)的平(píng)均電(diàn)阻(zǔ)率,兩(liǎng)探(tàn)針(zhēn)法的測量(liáng)度般優(yōu)於四探針(zhēn)法。
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