描述：半(bàn)導體(tǐ)粉(fěn)末電阻(zǔ)率測定儀(yí) 型(xíng)號；HHY8-FZ-2010 可以(yǐ)對粉(fěn)末，片(piàn)狀，塊狀半導(dǎo)體材料以 及固(gù)態(tài)金(jīn)屬(shǔ)進行電阻，電阻(zǔ)率(shuài)，方塊(kuài)電(diàn)阻(zǔ)等(děng)多(duō)用(yòng)途測量(liáng)。
廠商性質
生(shēng)產廠家(jiā)更(gēng)新時(shí)間(jiān)
2026-01-04訪問量(liáng)
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詳細(xì)介紹
| 品(pǐn)牌(pái) | 恒(héng)奧(ào)德 | 產(chǎn)地(dì)類別 | 國(guó)產(chǎn) |
|---|---|---|---|
| 應(yīng)用領域(yù) | 環(huán)保,化(huà)工(gōng),生物(wù)產業(yè),石油,製藥/生物(wù)製藥 |
粉(fěn)末(mò)電阻(zǔ)率測試儀/半導(dǎo)體(tǐ)粉末電(diàn)阻率(shuài)測定儀 型號；HHY8-FZ-2010
本(běn)公(gōng)司(sī)根據能(néng)源(yuán)方麵(miàn)，與(yǔ)其是(shì)鋰電(diàn)池(chí)技術(shù)的研(yán)究(jiū)需求，開發的型粉末(mò)電(diàn)阻率(shuài)測(cè)試(shì)儀(yí)。
半(bàn)導(dǎo)體粉(fěn)末(mò)電(diàn)阻率(shuài)測定儀本(běn)產品(pǐn)參(cān)照(zhào)有關(guān)國際(jì)標準設計(jì)，配置粉(fěn)末(mò)測(cè)試(shì)台或四探(tàn)針(zhēn)測試(shì)台，可以(yǐ)對(duì)粉(fěn)末，片狀，塊狀半(bàn)導體(tǐ)材(cái)料以(yǐ) 及(jí)固態金屬進(jìn)行(háng)電阻，電阻(zǔ)率(shuài)，方塊(kuài)電(diàn)阻等多用途測量(liáng)。
測(cè)量範(fàn)圍：電(diàn)阻(zǔ)10-4---106，分(fēn)辨率(shuài)1μΩ.㎝。
電阻(zǔ)率(shuài) 10-4---106，分(fēn)辨率(shuài)1μΩ.㎝。
薄層電阻(zǔ) 10-3 ---- 107 Ω/□ ，分辨率(shuài)10-5 Ω/□。
測(cè)量電壓(yā)量程：0.2mv\2mv\20mv\200mv\2v，分辨(biàn)率0.1μν，測(cè)量精(jīng)度(dù) ±（0.3%讀(dú)數(shù)+2字）。
測量電(diàn)流：0--100mA 連續可(kě)調(tiáo)。電流量(liáng)程(chéng) 1μΑ，10μΑ，100μΑ，1mΑ，10mΑ，100mΑ。
粉末測量(liáng)：1，試(shì)樣(yàng)粒度--標(biāo)準篩網40目(mù)以上(shàng)直至(zhì)納米(mǐ)材料(liào)。 2，試(shì)樣(yàng)容器---內腔(qiāng)φ16.30±0.1mm或φ6±0.1mm。 3，試樣高(gāo)度(dù)---16mm±0.5mm或(huò)6~20mm±0.1mm。測(cè)量誤(wù)差(chà)±0.1mm。4，取樣(yàng)壓(yā)力--4Mpa±0.5Mpa(40kg/cm2 ±0.5kg/cm2 )或(huò)8Mpa±0.5Mpa(80kg/cm2 ±0.75kg/cm2 )，壓力(lì)量(liáng)程(chéng)--0~200kg可調(tiáo)。
固(gù)體(tǐ)薄膜及半導體測量：四探針(zhēn)測試架(jià)---1，探針(zhēn)間(jiān)距(jù)1mm±0.03mm；2，探針遊(yóu)移(yí)率(shuài)﹤±0.3%；3，可(kě)測(cè)材(cái)料尺(chǐ)寸(cùn)--直(zhí)徑(jìng)φ15~160mm，長度<400mm。
顯示方式：3½位數字(zì)顯(xiǎn)示電阻(zǔ)，電阻(zǔ)率(shuài)，壓力(lì)，高度。單位，小數點自(zì)動(dòng)顯示。
電(diàn)源(yuán)：220±10% 50HZ~60HZ 功率消耗(hào)<150W。
外(wài)形尺(chǐ)寸： 440mm×120mm×420mm。
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