便(biàn)攜式四(sì)探針電(diàn)阻率測試(shì)儀 四(sì)探針(zhēn)電阻(zǔ)率(shuài)測試(shì)儀(yí) 四(sì)探針電(diàn)阻率檢測(cè)儀 四探針(zhēn)電阻(zǔ)率(shuài)測(cè)定(dìng)儀(yí) 型號(hào)：KDK-KDY-1A

概述
便攜(xié)式電阻測度儀(yí)是(shì)用(yòng)來測量矽晶塊，晶片(piàn)電阻率及(jí)擴(kuò)散(sàn)層，外延層，ITO導(dǎo)電箔(bó)膜，導電(diàn)橡(xiàng)膠等(děng)材料(liào)方(fāng)塊(kuài)電阻的小型儀(yí)器。
本儀(yí)器按(àn)照半導體材(cái)料電阻率的(dí)際(jì)及(jí)家(jiā)標準測(cè)試(shì)方法(fǎ)有關(guān)規定(dìng)。
它主要由(yóu)電(diàn)器測量(liáng)份（主機(jī)）及四(sì)探(tàn)頭組成(chéng)，需(xū)要時可加(jiā)配測試架。
為減(jiǎn)小(xiǎo)體(tǐ)積，本儀(yí)器(qì)用(yòng)同塊數字表測量(liáng)電及(jí)阻率。樣品測試(shì)電(diàn)由寬的恒源提(tí)供，隨(suí)時(shí)可行(háng)校(xiào)準，以確保(bǎo)電阻(zǔ)率測(cè)量的準(zhǔn)確度。因此本(běn)儀(yí)器不(bù)僅可以(yǐ)用來(lái)分材(cái)料(liào)也可以(yǐ)用(yòng)來(lái)作產(chǎn)品(pǐn)檢測(cè)。對1～100Ω•cm標(biāo)準樣(yàng)片的測量瓿(bù)差不過(guò)±3%，在(zài)此範圍內(nèi)達到(dào)家(jiā)標(biāo)準機的水平。
測(cè)量(liáng)範圍(wéi)：
可測量(liáng) 電阻率：0.01～199.9Ω•cm。
可(kě)測方塊電(diàn)阻：0.1～1999Ω/口
當被測材(cái)料(liào)電(diàn)阻率≥200Ω•cm數字(zì)表(biǎo)顯示0.00。
（2）恒(héng)源(yuán)：
輸出電：DC 0.1mA～10mA分(fēn)兩檔
10mA量程：0.1～1mA 連(lián)續可調(tiáo)
10mA量(liáng)程：1mA ～10mA連(lián)續(xù)可(kě)調
恒(héng)度：各檔均優於±0.1%
適合測量(liáng)各(gè)種(zhǒng)厚(hòu)度(dù)的(dí)矽片
（3） 直(zhí)數字電壓表
測量(liáng)範圍(wéi)：0～199.9mv
靈(líng)敏(mǐn)度(dù)：100μv
準(zhǔn)確(què)度(dù)：0.2%（±2個字）
（4） 供電(diàn)電(diàn)源：
AC：220V ±10% 50/60HZ 率8W
（5） 使用(yòng)環境(jìng)：
相對(duì)濕(shī)度≤80%
（6） 重量(liáng)，體積
重(zhòng)量(liáng)：2.2 公斤(jīn)
體(tǐ)積：寬210×100×深240（mm）
（7）KD探(tàn)針頭
壓痕直徑：30/50μm
間(jiān)距：1.00mm
探(tàn)針合力(lì)：8±1N
針材(cái)：TC

 

北(běi)京恒(héng)奧德(dé)儀(yí)器(qì)儀表有(yǒu)限公(gōng)司
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