電偶腐蝕/電化學(xué)噪聲測試(shì)儀/電(diàn)偶(ǒu)腐蝕測試(shì)儀(yí)   型號:DP-CST-500

DP-CST-500係列電(diàn)偶腐蝕/電(diàn)化(huà)學噪聲測(cè)試(shì)儀(yí)由(yóu)CMOS和(hé)BiFET®集(jí)成(chéng)電(diàn)路組成(chéng)，用於實時監測電(diàn)偶(ǒu)腐蝕(shí)或(huò)者電化學(xué)噪聲(shēng)信(xìn)號(hào)，儀器可以通過(guò)基(jī)於Windows的(dí)ENtools軟件行(háng)設置（由(yóu)串口(kǒu)控(kòng)製），也(yě)可以直接通過麵(miàn)板(bǎn)觸摸鍵(jiàn)盤操(cāo)作。通過(guò)ENtools軟(ruǎn)件(jiàn)用(yòng)戶(hù)可計算電偶電(diàn)密度，電(diàn)偶腐蝕(shí)速(sù)率，噪聲電阻Rn，以及(jí)點蝕(shí)數等。ENtools軟(ruǎn)件還具有較強的繪圖能(néng)，支持圖形(xíng)矢(shǐ)量方式(shì)，可(kě)以直(zhí)接(jiē)拷(kǎo)貝(bèi)到Word文(wén)檔中(zhōng)，便於文(wén)檔建立(lì)和資料保存(cún)。

儀器(qì)作原理

DP-CST-500係(xì)列(liè)采用業(yè)單片機控(kòng)製芯(xīn)片，並(bìng)采用斬波(bō)穩(wěn)零放大器Max7650作為前置放大(dà)電(diàn)路，其(qí)溫漂(piāo)小於(yú)1mV/℃，時漂小於10mV/Month。采用(yòng)基於零(líng)阻(zǔ)電測量原理來(lái)監測電(diàn)化學(xué)噪聲和(hé)電偶腐蝕(shí)電。內置(zhì)有(yǒu)雙(shuāng)通道(dào)24bit度AD轉換器，采樣速率(shuài)為1000Hz，電(diàn)測量具有(yǒu)自動量(liáng)程(chéng)能(néng)，內(nèi)置低通濾(lǜ)波(bō)器(qì)，可(kě)以有(yǒu)效消除頻噪聲入測(cè)量(liáng)單元(yuán)；通訊分(fēn)采(cǎi)用RS232/485電路(lù)，電路采(cǎi)用光(guāng)隔，避(bì)免地回路對(duì)測量結(jié)果的(dí)影響(xiǎng)，保障(zhàng)儀(yí)器在(zài)業環境中的正常使(shǐ)用(yòng)。